The realization of a low‐energy ion‐scattering technique with an ion cyclotron resonance spectrometer

E. N. Nikolaev, A. V. Mordehai, V. E. Frankevich

Результат исследований: Вклад в журналСтатьярецензирование

6 Цитирования (Scopus)

Аннотация

A low energy ion scattering technique for investigation of the first monolayer of a surface has been realized in an ion cyclotron resonance mass spectrometer. The secondary‐ion mass spectrometry mode is also available in the same configuration. Preliminary results are shown for the analysis of the metal surface of a magneto‐optical recording film.

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)260-262
Число страниц3
ЖурналRapid Communications in Mass Spectrometry
Том5
Номер выпуска6
DOI
СостояниеОпубликовано - июн. 1991
Опубликовано для внешнего пользованияДа

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «The realization of a low‐energy ion‐scattering technique with an ion cyclotron resonance spectrometer». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать