Temporary grating coupler structures using localised refractive index engineering

R. Topley, G. Martinez-Jimenez, L. O'Faolain, N. Healy, S. Mailis, D. J. Thomson, F. Y. Gardes, A. C. Peacock, D. N.R. Payne, G. Z. Mashanovich, G. T. Reed

Результат исследований: Глава в книге, отчете, сборнике статейМатериалы для конференциирецензирование

Аннотация

We demonstrate an erasable grating coupler which allows optical device testing throughout the fabrication process without impairing final circuit performance. Refractive index variation is introduced using ion implantation and can be subsequently removed using laser annealing.

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииAsia Communications and Photonics Conference, ACPC 2014
ИздательOptical Society of America (OSA)
ISBN (электронное издание)9781557528520
DOI
СостояниеОпубликовано - нояб. 2014
Опубликовано для внешнего пользованияДа
Событие2014 Asia Communications and Photonics Conference, ACP 2014 - Shanghai, Китай
Продолжительность: 11 нояб. 201414 нояб. 2014

Серия публикаций

НазваниеAsia Communications and Photonics Conference, ACP
Том2014-November
ISSN (печатное издание)2162-108X

Конференция

Конференция2014 Asia Communications and Photonics Conference, ACP 2014
Страна/TерриторияКитай
ГородShanghai
Период11/11/1414/11/14

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «Temporary grating coupler structures using localised refractive index engineering». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать