Concentration of Small Ring Structures in Vitreous Silica from a First-Principles Analysis of the Raman Spectrum

P. Umari, Xavier Gonze, Alfredo Pasquarello

Результат исследований: Вклад в журналСтатьярецензирование

114 Цитирования (Scopus)

Аннотация

Using a first-principles approach, we calculate Raman spectra for a model structure of vitreous silica. We develop a perturbational method for calculating the dielectric tensor in an ultrasoft pseudopotential scheme and obtain Raman coupling tensors by finite differences with respect to atomic displacements. For frequencies below [Formula presented], the parallel-polarized Raman spectrum of vitreous silica is dominated by oxygen bending motions, showing a strong sensitivity to the intermediate range structure. By modeling the Raman coupling, we derive estimates for the concentrations of three- and four-membered rings from the experimental intensities of the Raman defect lines.

Язык оригиналаАнглийский
Номер статьи027401
Страницы (с-по)027401/1-027401/4
Число страниц1
ЖурналPhysical Review Letters
Том90
Номер выпуска2
DOI
СостояниеОпубликовано - 17 янв. 2003
Опубликовано для внешнего пользованияДа

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «Concentration of Small Ring Structures in Vitreous Silica from a First-Principles Analysis of the Raman Spectrum». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать